Исследование топологии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии

Купить бумажную книгу и читать

Купить бумажную книгу

По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Читай Город".

Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Labyrinth" online store.

Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: MvGzQC98w3Z1gMq1kx5ACoy5.

Автор:

Название: Исследование топологии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии

Издательство: МИФИ

Год: 2008

Формат: pdf

Размер: 2,9 Mib

Для сайта:

В пособии приведено описание устройства, программного обеспечения и порядка работы на сканирующем мультимикроскопе СММ-2000 в режиме туннельной микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. На конкретном примере рассмотрены возможности анализа изображения с целью определения шероховатости поверхности и исследования морфологических особенностей структурно-фазовых составляющих образца. Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы.

Дата создания страницы: