По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Читай Город".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Labyrinth" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: MvGzQC98w3Z1gMq1kx5ACoy5.
Автор:Николичев Д.Е., Боряков А.В.
Название: Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии
Издательство:Нижний Новгород: ННГУ
Год: 2011
Страниц:110
Формат: PDF
Размер: 4.2 Мб
Для сайта:
Рассматриваются физические основы методов электронной оже-спектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа состава самоорганизованных кремний-германиевых систем и тонкопленочных структур разбавленных магнитных полупроводников.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать