Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Автор: Ланно М., Бургуэн Ж.
Название: Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты
Издательство: Москва: Мир
Год: 1985
Формат: PDF
Размер: 15 mb
Для сайта:
Цель данной книги, написанной французскими учеными, — анализ влияния точечных дефектов на различные физические свойства полупроводников. В книге рассматриваются эффект Яна — Теллера и электронный парамагнитный резонанс, вопросы генерации и рекомбинации носителей тока на примесных центрах.
Предназначена для специалистов, работающих в области физики полупроводников, а также студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Дата создания страницы: