Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Читай Город".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Labyrinth" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: MvGzQC98w3Z1gMq1kx5ACoy5.
Memory, Microprocessor, and ASIC (Principles and Applications in Engineering, 7)
ISBN: 0849317371 | 2003 edition | Publisher: CRC | 384 Pages | PDF | 8.19 MB
Timing, memory, power dissipation, testing, and testability are all crucial elements of VLSI circuit design. In this volume culled from the popular VLSI Handbook, experts from around the world provide in-depth discussions on these and related topics. Stacked gate, embedded, and flash memory all receive detailed treatment, including their power consumption and recent developments in low-power memories. Reflecting the rapid development and importance of systems-on-a-chip (SOCs), an entire chapter is devoted to application-specific integrated circuits (ASICs). Design-related topics include microprocessor architectures, layout methods, design verification, testability concepts, and various CAD tools
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Читай Город".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Labyrinth" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: MvGzQC98w3Z1gMq1kx5ACoy5.
Дата создания страницы: