Проектирование и тестирование цифровых систем на кристаллах

Купить бумажную книгу и читать

Название: Проектирование и тестирование цифровых систем на кристаллах

Автор: В.И. Хаханов, Е.И. Литвинова, O.A. Гузь

Издательство: ХНУРЭ

Год: 2009

Страниц: 484

ISBN: 978-966-2046-67-0

Формат: DJVU

Размер: 12.8 Мб

Язык: русский

Представлены современные конструктивные компоненты для имплементации цифровых систем на кристаллах в виде System on Chip (SoC) и System in Package (SiP). Дан аналитический обзор преимуществ пакетирования кристаллов, доставляемых разработчикам аппаратуры, а также перспективы и привлекательность компактных и энергосберегающих цифровых систем для рынка электронных технологий. Использованы лучшие зарубежные и отечественные издания, IEEE стандарты, а также работы ведущих ученых и специалистов в области Design & Test.

В связи с микроминиатюризацией конструктивов обозначены новые проблемы синтеза, анализа и тестирования цифровых систем в пакетах. Показаны пути их решения на основе адаптации существующих технологий проектирования и создания новых методов и моделей, инфраструктуры тестового обеспечения SoC и SiP. Для решения задач сервисного обслуживания компонентов цифровых систем предложен спектр моделей и методов, ориентированный на анализ и синтез тестов, диагностирование и восстановление работоспособности цифровых изделий в реальном масштабе времени. Показано, что решение задач тестирования и верификации компактных и миниатюрных систем возможно только на основе использования IЕЕЕ стандартов тестопригодного проектирования, механизмов ассерций, а также средств анализа и синтеза. Состоятельность моделей и методов подкреплена рассмотрением многочисленных примеров проектирования, верификации и встроенного тестирования компонентов цифровых систем в пакетах, таких как память, логика, программные и управляющие модули.

Книга предназначена для студентов, аспирантов и специалистов в области автоматизированного проектирования и компьютерной инженерии встроенных систем и сетей, а также для широкого круга читателей, занимающихся разработкой и тестированием Hardware/Software для SoC и SiP.