В монографии рассматриваются вопросы долговечности интегральных схем в целом и элементов их конструкции при воздействии различных дестабилизирующих факторов, вопросы прогнозирования долговечности ИС по ускоренным испытаниям, по катастрофическим и параметрическим отказам, а также вопросы индивидуального прогнозирования долговечности схем по изменению их электрофизических параметров. Книга предназначена специалистам электронной и радиоэлектронной промышленности, студентам старших курсов и аспирантам вузов соответствующих специальностей. Книга предназначена специалистам электронной и радиоэлектронной промышленности, студентам старших курсов и аспирантам вузов соответствующих специальностей. В монографии рассматриваются вопросы долговечности интегральных схем в целом и элементов их конструкции при воздействии различных дестабилизирующих факторов, вопросы прогнозирования долговечности ИС по ускоренным испытаниям, по катастрофическим и параметрическим отказам, а также вопросы индивидуального прогнозирования долговечности схем по изменению их электрофизических параметров.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.