Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Автор: А. А. Чернышев
Название: Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Издательство: Радио и связь
Год: 1988
Формат: djvu
Размер: 40 Mib
Для сайта:
В книге на основе современных физических представлений рассмотрены
вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факто-
ров и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты,
возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводни-
ковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения
их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся
производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их
применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих
специальностей.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Дата создания страницы: