Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Читай Город".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Labyrinth" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: MvGzQC98w3Z1gMq1kx5ACoy5.
Автор: А. А. Чернышев
Название: Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Издательство: Радио и связь
Год: 1988
Формат: djvu
Размер: 40 Mib
Для сайта:
В книге на основе современных физических представлений рассмотрены
вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факто-
ров и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты,
возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводни-
ковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения
их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся
производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их
применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих
специальностей.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Читай Город".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Labyrinth" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: MvGzQC98w3Z1gMq1kx5ACoy5.
Дата создания страницы: