Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Методы измерения параметров полупроводниковых материалов
Название: Методы измерения параметров полупроводниковых материалов
Автор: Павлов Л.П.
Издательство: Высшая школа
Год: 1987
Страниц: 239
Формат: DJVU
Размер: 3.6 Мб
Язык: русский
Целью курса «Методы измерения параметров полупроводниковых материалов» является изучение экспериментальных методов измерения параметров, которые являются основными для производственного контроля качества полупроводниковых материалов и структур и составляют основу многих методов исследования в области физики полупроводников и полупроводниковых приборов.
Основное внимание в книге уделено методам измерения удельной электрической проводимости, концентрации носителей заряда и легирующих примесей, подвижности основных и неосновных носителей заряда, коэффициента диффузии, диффузионной длины и объемного времени жизни неосновных носителей заряда, объемного генерационного времени неравновесных носителей заряда, скорости поверхностной рекомбинации, параметров глубоких уровней и некоторых других параметров.
Изложение базируется главным образом на материалах предыдущих курсов «Физика полупроводников» и «Радиотехника и радиоизмерения».
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Дата создания страницы: