Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа
Купить бумажную книгу и читать
Купить бумажную книгу
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Читай Город".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Labyrinth" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: MvGzQC98w3Z1gMq1kx5ACoy5.
Автор: Антоненко С.В.
Название : Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа
Издательство: НИЯУ МИФИ
Год : 2011
Формат : pdf
Размер : 4.84 Mib
Для сайта:
Лабораторный практикум посвящен изучению свойств пленок, наноструктур, наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии, при этом существенное внимание уделено технологических процессам получения образцов для таких исследований.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
Купить бумажную книгу
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Читай Город".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Labyrinth" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: MvGzQC98w3Z1gMq1kx5ACoy5.
Дата создания страницы: 2019-02-26 12:41
Похожие книги Введение в нанотехнологию Автор: Попова Л.М. Издательство: СПбГТУРП Год: 2013 Страниц: 96 Формат: PDF Размер: 6.3 Мб Язык: русский В учебном пособии даны основные понятия и сведения о нанообъектах и нанотехнологиях. Изложены история возникновения и...Физика тонких пленок. Т. 1-3 Автор : Хасс Г. (ред.) Издательство : М.: Мир Год : 1967-1968 Формат : djvu Размер : 29 mb Для сайта: Трехтомник посвящен проблемам состояния исследований в области тонких пленок....Оксидная изоляция Автор: Тареев Б.М., Лернер М.М. Издательство: М.: Энергия Год: 1975 Страниц: 207 Формат: DJVU Размер: 10.7 Мб Язык: русский В книге описаны различные способы получения оксидной изоляции на алюминии, тантале и многих...Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий Автор: Глинченко А.С., Егоров Н.М., Комаров В.А., Сарафанов А.В. Издательство: ДМК Пресс Год: 2008 Страниц: 352 ISBN: 5-94074-416-8 Формат: DJVU Размер: 5.3 Мб Язык: русский Рассмотрены задачи, методы и особенности автоматизированного лабораторного...Технология тонких пленок. Справочник (в 2-х томах) Книга : Технология тонких пленок. Справочник (в 2-х томах) Автор: Л. Майссел, Р. Глэнг Издательство: Советское радио Страниц: 664 + 768 Формат : DJVU Размер : 31,39 Мб Качество : Нормальное Язык...Эллипсометрия - метод исследования поверхности Автор: Ржанов А.В. (отв. ред.) Издательство : Новосибирск: Наука Год: 1983 Формат : djvu Размер : 4 мб Cтраниц: 182 Язык: русский Сборник объединяет работы участников II Всесоюзной конференции "Эллипсометрия - метод...Лаборатория металлографии Автор : Панченко Е.В., Скаков Ю.А., Кример Б.И., П.Н.Арсеньев, К.В.Попов, М.Я.Цвилинг. Издательство : М.: Металлургия Год : 1965 Страниц : 500 Формат : djvu Размер : 23 mb Изложены методики...Физическое материаловедение. В 6 томах. Том 3. Методы исследования структурно-фазового состояния материалов Автор: Калин Б.А (ред.) Издательство: М.: МИФИ Год : 2008 Количество страниц: 808 Формат : pdf Размер : 28 Mb Для сайта: Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного...Алгебра и начала математического анализа. 11 класс. Контрольные работы. (профильный уровень) Очерки математики Гнездовая биология птиц в урбанизированном и техногенно загрязненном ландшафте River Discharge to the Coastal Ocean: A Global Synthesis