Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме. Описание лабораторной работы.
Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Название: Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме. Описание лабораторной работы.
Автор:Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю.
Издательство:Издательство Нижегородского государственного университета
Год: 2003
Язык: русский
Формат: doc
Страниц:23
Размер: 432 КБ
В данной лабораторной работе рассматриваются физические принципы работы сканирующего атомного силового микроскопа в неконтактном режиме и методика исследования топографии поверхности твердых тел в нанометровом масштабе методом неконтактной атомно-силовой микроскопии.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.