Электронная микроскопия тонких кристаллов

Купить бумажную книгу и читать

Название: Электронная микроскопия тонких кристаллов

Автор: П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан

Издательство: М.: Мир

Год: 1968

Страниц: 573

Формат: DJVU

Размер: 37 Мб

Язык: русский

В настоящее время электронная микроскопия является одним из основных и высокоэффективных методов экспериментального исследования в физике твердого тела, материаловедении, биологии, химии и т. д., широко применяемым не только в научно-исследовательских институтах и вузах, но и в промышленных лабораториях.

Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов.

Авторы книги — крупные английские ученые, известные своим большим вкладом в теорию, методику и применения электронной микроскопии кристаллов.

Книга предназначена для научных работников и инженеров, использующих электронную микроскопию в исследовательских и прикладных целях, а также для преподавателей и студентов — материаловедов и кристалло-физиков — в качестве дополнительного пособия по электронной микроскопии.