Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Буквоед".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Bookvoed" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: 5jtCeReLm1S3Xx3LfAELCUa.
Название : Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
Автор: Батаев В.А.
ISBN: 978-5-02-034811-0
Издательство: Наука
Язык: русский
Год: 2007
Формат: djvu
Размер: 4 Мб
Страницы: 224
Описание:
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
Скачать книгу:
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "Буквоед".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "Bookvoed" online store.
Реклама. ООО «Новый Книжный Центр», ИНН: 7710422909, erid: 5jtCeReLm1S3Xx3LfAELCUa.
Дата создания страницы: