Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики
Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Автор: Мошников В.А., Спивак Ю.М.
Название: Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики
Издательство: СПб.: Изд-во СПбГЭТУ ЛЭТИ
Год: 2009
Страниц: 80
Формат: PDF
Размер: 3.24 Мб
Для сайта:
Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Дата создания страницы: