По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Название: Надежность и испытания изделий радиоэлектроники
Автор: Марин В.П., Гродзенский С.Я.
Издательство: МИРЭА
Год: 2009
Формат: pdf
Размер: 65 мб
Cтраниц: 136
Язык: русский
В учебном пособии рассматриваются актуальные вопросы анализа надежности и испытаний различных типов изделий радиоэлектроники. В пособии рассмотрены этапы формирования и развития теории надежности, трактуются основные понятия термины и определения, относящиеся к надежности в технике. Разбирается вероятностный, статистический и физический смысл показателей надежности. Анализируются модели отказов на основе статистико-физического подхода.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.