Купить бумажную книгу и читать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Название: Растровая электронная микроскопия. Разрушение: Справочник
Автор: Энгель Л., Клингеле Г.
Издательство: Металлургия
Год: 1986
Страниц: 232
Формат: DJVU
Размер: 40.2 Мб
Язык: русский
Изложены методики растровой электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа (при использовании различных источников излучения), Оже-электронной спектроскопии. Рассмотрены причины, вызывающие типичные повреждения (дефекты) металлов. Показано внешнее проявление дефектов и описаны различные виды хрупкого и вязкого разрушения в конкретных металлических сплавах. Приведена классификация вязких и хрупких изломов и данные об усталостном разрушении. Книга содержит богатый иллюстративный материал.
Купить бумажную книгу или электронную версию книги и скачать
По кнопке выше можно купить бумажные варианты этой книги и похожих книг на сайте интернет-магазина "МИФ".
Using the button above you can buy paper versions of this book and similar books on the website of the "MIF" online store.
Реклама. ООО «МИФ», ИНН: 7703809969, erid: LatgBY5SL.
Дата создания страницы: